Bundesamt für Sicherheit in der Informationstechnik

BSI-DSZ-CC-S-0103-2018

NXP Semiconductors E space Park – Bât. C, 45 Allée des Ormes, 06250 Mougins France

Antragsteller / Applicant

NXP Semiconductors France

E Space Park, Building C, 45 Allee des Ormes
06250 Mougins
France

Prüfstelle / Evaluation Facility

T-Systems International GmbH

Standorttyp / Type of Site

Development Center

Prüftiefe / Assurance

ALC_CMC.5, ALC_CMS.5, ALC_DVS.2, ALC_LCD.1, ALC_FLR.3, ALC_DEL.1, ALC_TAT.3

Ausstellungsdatum / Certification Date

15.05.2018

gültig bis / valid until

14.05.2018

Zertifizierungsreport / Certification Report
Standortsicherheitsvorgaben / Site Security Target

Der zertifizierte Standort ist NXP Semiconductors E space ParkBât. C 45 allée des Ormes 06250 Mougins France.
Die Entwicklungsbereiche befinden sich im Gebäude der NXP Semiconductors. Die Entwicklungsbereiche sind Sicherheitsbereiche mit Zugangsbeschränkung, zu dem nur autorisierte Personen Zugang haben. Sie sind in verschiedenen Flügeln und Stockwerken desselben Gebäudes (Bât C) wie nachfolgend beschrieben:

  • Im linken Flügel im ersten Stock des Gebäudes, in einem abgeschlossen Bereich, welcher einen YELLOW Bereich und zwei RED Bereiche beinhaltet.
  • Im rechten Flügel im Erdgeschoss des Gebäudes, in einem abgeschlossen Bereich, welcher einen YELLOW Bereich beinhaltet.

Die Aktivitäten in diesem Bereich sind wie folgt: IC Design und Verifikation (Phase 1) und/oder IC Dedicated Software Development und Testen (Phase 2) wie im 'Security IC Security IC Platform Protection Profile Platform Protection Profile' (PP-0035) und dem 'Security IC Platform Protection Profile with Augmentation Packages' (PP-0084) definiert.

The certified site is NXP Semiconductors E space Park – Bât. C 45 allée des Ormes 06250 Mougins France.
The development areas are located within the NXP Semiconductors building. The development areas are secure areas with restricted access where only authorized persons are allowed to enter. They are located in different wings and floors of the same building (Bât C) as described hereafter:

  • in the left wing on the first floor of the building, in a closed area and consists of one physical YELLOW area and 2 physical RED area contained within the YELLOW area.
  • in the right wing on the ground floor of the building in a dedicated closed area consisting of one physical YELLOW area.

The activities are: IC Design and verification (Phase 1) and/or IC Dedicated Software Development and testing (Phase 2) as defined in 'Security IC Platform Protection Profile' (PP-0035) and 'Security IC Platform Protection Profile with Augmentation Packages' (PP-0084).